隨著技術(shù)的發(fā)展，光學(xué)薄膜的光學(xué)性能也在廠家的不斷提高，市場需要更高等的產(chǎn)品，其中在液晶面板吃起的成產(chǎn)中，也液晶貼的的一層膜的配向角度的優(yōu)良很大程度上影響生產(chǎn)出來的液晶面板的顯示效果的好壞。關(guān)于如何了解這一層配向膜（PI）的配向角度，研發(fā)人員一直沒有合適設(shè)備來測量， 近期，日本的phl廠家?guī)�來這款通過測量雙折射的方法來檢驗配向角度的設(shè)備。

測量示例：

通過WPA-200的檢驗，可以知道產(chǎn)品的雙折射大小和方向，內(nèi)應(yīng)力的分布情況，在經(jīng)過分析得到數(shù)據(jù)